Wikipedia

Razlika između verzija stranice "Mikroskopija atomskih sila"

Pregled historije
[pregledana izmjena][pregledana izmjena]
← Starija izmjenaNovija izmjena →
Uklonjeni sadržaj Dodani sadržaj
VizualnoWikitekst
No edit summary
oznaka: uređivanje izvornog kôda (2017)
Red 14:
== Princip rada ==
 
Mikroskopija atomskih sila se zasniva na mjerenju intenziteta nepolarnih međumolekularnih sila čiji je analitički opis dat izrazom za LenardLennard-DžonsovJonesov potencijal. Intenzitet nepolarnih međumolekularnih sila je zavisan od rastojanja na kome se nalaze čestice čiju interakciju utvrđujemo, što nam omogućuje da mjerenjem intenziteta sile tačno odredimo na kom se rastojanju od uzorka (atoma) nalazimo. Na osnovu izmjerene vrijednosti intenziteta sile rekonstruiše se rastojanje od uzorka i to je osnova za pravljenje slike koja se dobija metodom mikroskopije atomskih sila. Ako u velikom broju tačaka na površini nekog uzorka izvršimo mjerenje intenziteta međumolekularnih sila, tada smo u mogućnosti da spajanjem tih tačaka, dobijemo informaciju o [[Morfologija|morfološkom]] izgledu te površine.
 
Mjerenja se sprovode pomoću nano-konzole koja predstavlja ključnu komponentu sistema za mjerenje sila čiji se intenzitet kreće u opsegu nekoliko nanonjutna (10–9 m).<ref>{{cite journal|last=Cappella |first=B |author2=Dietler, G |journal=[[Surface Science Reports]] |year=1999 |volume=34 |issue=1–3 |pages=1–104 |doi=10.1016/S0167-5729(99)00003-5 |url=http://www.see.ed.ac.uk/~vkoutsos/Force-distance%20curves%20by%20atomic%20force%20microscopy.pdf |bibcode=1999SurSR..34....1C |title=Force-distance curves by atomic force microscopy |archiveurl=https://web.archive.org/web/20121203031934/http://www.see.ed.ac.uk/~vkoutsos/Force-distance%20curves%20by%20atomic%20force%20microscopy.pdf |archivedate=3. 12. 2012 |df= }}</ref>
Preuzeto iz "https://bs.wikipedia.org/wiki/Mikroskopija_atomskih_sila"