Skenirajući tunelski mikroskop: razlika između verzija

nema sažetka izmjene
m (robot dodaje {{Commonscat|Scanning tunneling microscope}})
No edit summary
[[Datoteka:ScanningTunnelingMicroscope_schematic.png|mini|desno|250px|Šematski prikaz skenirajućeg tunelskog mikroskopa.]]
'''Skenirajući Tunelski Mikroskop''' (STM) je veoma moćna [[tehnologija]] za snimanje površine i karakterizaciju materijala sa mogućnošću postizanja [[atom]]ske rezolucije. STM je zasnovana na [[Kvantna mehanika|kvantno-mehaničkom]] efektu [[Tunel efekat|tunelovanja]] elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz [[vakuum]] koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka [[elektron]]a struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) je funkcija lokalne gustine stanja.
 
Njegov razvoj je 1981. donio pronalazačima, Gerd-u Binnig-u i Heinrich-u Rohrer-u (sa IBM Zürich), [[Nobelova nagrada za fiziku|Nobelovu nagradu za fiziku]], 1986.