Wikipedia

Razlika između verzija stranice "Mikroskopija atomskih sila"

Pregled historije
[pregledana izmjena][pregledana izmjena]
← Starija izmjenaNovija izmjena →
Uklonjeni sadržaj Dodani sadržaj
VizualnoWikitekst
m razne ispravke
No edit summary
oznaka: uređivanje izvornog kôda (2017)
Red 8:
Ovom, danas izuzetno uspješnom tehnologijom vizualizacije, postignuta je rezolucija snimanja od nekoliko [[pikometar]]a, čime je omogućeno snimanje uzoraka u atomskoj rezoluciji. Današnja [[Optika|optička]] i [[elektronska mikroskopija]] su na pragu dostizanja ovako visoke rezolucije. U budućnosti se očekuje dalji razvoj obija novih tehnologija, tako da će biti moguće rutinsko snimanje u atomskoj rezoluciji.<ref>{{Cite news|url=https://www.cnet.com/news/ibms-35-atoms-and-the-rise-of-nanotech/|title=IBM's 35 atoms and the rise of nanotech|work=CNET|access-date=23. 8. 2017|language=en}}</ref>
 
== Otkriće metode ==
 
Metoda mikroskopije atomskih sila (MAS) je nastala 1986. godine kao proizvod istraživanja koja su u laboratorijama američke firme [[IBM]] u [[Zürich]]u, sproveli [[Gerd Binnig]], [[Calvin Quate]] i [[Christoph Gerber]]. Ovom otkriću je prethodilo otkriće Skenirajuće Tunelske Mikroskopije (STM) Gerda Binniga i {[[Heinrich Rohrer|Heinricha Rohrera]] 1982. godine koji su za rad na tehnologiji STM nagrađeni [[Nobelova nagrada za fiziku|Nobelovom nagradom za fiziku]].<ref>{{cite journal | last1 = Binnig | first1 = G. | last2 = Quate | first2 = C. F. | last3 = Gerber | first3 = C. | year = 1986 | title = Atomic Force Microscope | url = | journal = Physical Review Letters | volume = 56 | issue = 9| pages = 930–933 | doi=10.1103/physrevlett.56.930|bibcode = 1986PhRvL..56..930B | pmid=10033323}}</ref>
 
== Princip rada ==
Line 25 ⟶ 24:
Osim toga, priprema uzorka je znatno manje zahtjevna nego što je to slučaj kod elektronske mikroskopije, tako da je jasno da mikroskopija atomskih sila ima svojih prednosti. Međutim, snimci dobijeni elektronskim mikroskopom imaju mogućnost snimanja trodimenzionalnih objekata dok je u mikroskopiji atomskih sila snimanje (zasad) ograničeno na površine.
 
Dalje, snimci dobijeni mikroskopijom atomskih sila omogućavaju mjerenja svih veličina, kako geometrijskih tako i fizičkih (električne, magnetne i mehaničke osobine uzorka) što predstavlja korak unaprijed u odnosu na elektronsku mikroskopiju.<ref>{{Cite journal|last=Pollard|first=Benjamin|last2=Raschke|first2=Markus B.|date=22. 4. 2016|title=Correlative infrared nanospectroscopic and nanomechanical imaging of block copolymer microdomains|journal=Beilstein Journal of Nanotechnology|language=en|volume=7|issue=1|pages=605–612|doi=10.3762/bjnano.7.53|issn=2190-4286|pmc=4901903|pmid=27335750}}</ref> nanotechnology<ref>{{Cite journal|last=Huth|first=F.|last2=Schnell|first2=M.|last3=Wittborn|first3=J.|last4=Ocelic|first4=N.|last5=Hillenbrand|first5=R.|title=Infrared-spectroscopic nanoimaging with a thermal source|journal=Nature Materials|volume=10|issue=5|pages=352–356|doi=10.1038/nmat3006|pmid=21499314|bibcode = 2011NatMa..10..352H |year=2011}}</ref><ref>{{Cite journal|last=Bechtel|first=Hans A.|last2=Muller|first2=Eric A.|last3=Olmon|first3=Robert L.|last4=Martin|first4=Michael C.|last5=Raschke|first5=Markus B.|date=20. 5. 2014|title=Ultrabroadband infrared nanospectroscopic imaging|journal=Proceedings of the National Academy of Sciences|language=en|volume=111|issue=20|pages=7191–7196|doi=10.1073/pnas.1400502111|issn=0027-8424|pmc=4034206|pmid=24803431|bibcode = 2014PNAS..111.7191B }}</ref>
== Režimi rada ==
Preuzeto iz "https://bs.wikipedia.org/wiki/Mikroskopija_atomskih_sila"