Razlika između verzija stranice "Mikroskopija atomskih sila"
| [pregledana izmjena] | [pregledana izmjena] |
Uklonjeni sadržaj Dodani sadržaj
Rescuing 5 sources and submitting 0 for archiving.) #IABot (v2.0 |
m →Princip rada: uklanjanje deadurl=yes prema postavkama modula za reference |
||
Red 17:
Mikroskopija atomskih sila se zasniva na mjerenju intenziteta nepolarnih međumolekularnih sila čiji je analitički opis dat izrazom za Lenard-Džonsov potencijal. Intenzitet nepolarnih međumolekularnih sila je zavisan od rastojanja na kome se nalaze čestice čiju interakciju utvrđujemo, što nam omogućuje da mjerenjem intenziteta sile tačno odredimo na kom se rastojanju od uzorka (atoma) nalazimo. Na osnovu izmjerene vrijednosti intenziteta sile rekonstruiše se rastojanje od uzorka i to je osnova za pravljenje slike koja se dobija metodom mikroskopije atomskih sila. Ako u velikom broju tačaka na površini nekog uzorka izvršimo mjerenje intenziteta međumolekularnih sila, tada smo u mogućnosti da spajanjem tih tačaka, dobijemo informaciju o [[Morfologija|morfološkom]] izgledu te površine.
Mjerenja se sprovode pomoću nano-konzole koja predstavlja ključnu komponentu sistema za mjerenje sila čiji se intenzitet kreće u opsegu nekoliko nanonjutna (10-9 m).<ref>{{cite journal|last=Cappella |first=B |author2=Dietler, G |journal=[[Surface Science Reports]] |year=1999 |volume=34 |issue=1–3 |pages=1–104 |doi=10.1016/S0167-5729(99)00003-5 |url=http://www.see.ed.ac.uk/~vkoutsos/Force-distance%20curves%20by%20atomic%20force%20microscopy.pdf |bibcode=1999SurSR..34....1C |title=Force-distance curves by atomic force microscopy
== Mogućnosti snimanja ==
| |||