Skenirajući tunelski mikroskop: razlika između verzija

m
Malo previše vanjskih?
m (Malo previše vanjskih?)
{{Nedostaju izvori}}
[[Datoteka:ScanningTunnelingMicroscope_schematic.png|mini|desno|250px|Šematski prikaz skenirajućeg tunelskog mikroskopa.]]
'''Skenirajući Tunelskitunelski Mikroskopmikroskop''' (STM) je veoma je moćna [[tehnologija]] za snimanje površine i karakterizaciju materijala sas mogućnošću postizanja [[atom]]ske rezolucije. STM je zasnovana na [[Kvantna mehanika|kvantno-mehaničkom]] efektu [[Tunel efekat|tunelovanja]] elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz [[vakuum]] koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka [[elektron]]a struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) jejest funkcija lokalne gustine stanja.
 
Njegov razvoj je 1981. donio pronalazačima, Gerd-u Binnig-u i Heinrich-u Rohrer-u (sa IBM Zürich), [[Nobelova nagrada za fiziku|Nobelovu nagradu za fiziku]], 1986.
 
Za STM, dobrom rezolucijom se smatra se 0,1 nm poprečno, i 0,01 nm po dubini. SaS ovakvomtakvom rezolucijom, pojedinačni atomi na površini materijala su jednostavno su uslikani, sas mogućnošću manipulacije.
 
Mnoge druge mikroskopske tehnike su razvijene su na bazi STM-a. One uključuju: '''fotonsku skenirajuću mikroskopiju''' (PSTM), koja koristi optički šiljak za tuneliranje fotona; skenirajući tunelski potenciometar (STP), koji mjeri električni potencijal površine; '''spin polariziranu skenirajuću tunelsku mikroskopiju''' (SPSTM), koja koristi feromagnetični šiljak da tunelira spin-polarizirane elektrone u magnetskom uzorku, kao i '''mikroskopiju atomske sile''' (AFM), u kojoj se mjeri sila uzrokovana interakcijom između vrha i uzorka.
 
== Također pogledajte ==