Razlika između verzija stranice "Koordinatna mjerna mašina"

[pregledana izmjena][pregledana izmjena]
Uklonjeni sadržaj Dodani sadržaj
m kategorizacija, replaced: inženjering → inženjerstvo (2)
No edit summary
Red 7:
Tipična tromostna "bridge" koordinatna mjerna mašina se sastoji iz tri ose: X, Y i Z. Ove ose su međusobno okomite, u smislu Dekartovog trodimenzionalnog koordinatnog sistema. Svaka osa ima sistem skale koji ukazuje na lokaciju osa. Mašina očitava ulazne podatke prilikom dodirivanja sonde i objekta, po nadzoru operatera ili programera. Mašina zatim koristi X, Y, Z koordinate svake od ovih tačaka da opiše veličinu i poziciju sa mikrometarskom preciznošću, po podrazumijevanoj vrijednosti.
 
Koordinatna mjerna mašina je također uređaj korišten u proizvodnji i procesima spajanja prilikom testiranja dijelova ili sklopova u cilju dobivanjadobijanja zahtjevanih proizvoda. Preciznim snimanjem X, Y i Z koordinata ciljanog objekta generiraju se tačke, a kasnije se to može analizirati preko [[Regresiona analiza|regresionog algoritma]] sa mogućnošću konstrukcije. Ove tačke su uzete korištenjem sonde koja je ručno podešena od strane operatera ili automatski preko direktne računarske kontrole ({{en|DCC}}). DCC CMM-ovi mogu biti programirani da uzastopno mjere jednake dijelove, s tim da je CMM posebni oblik [[Industrija|industrijskog]] [[robot]]a.
 
== Tehničke karakteristike ==
Red 46:
Sistemi sondi za [[mikroskop]]sku metrologiju su slijedeće područje napredovanja.<ref>{{ Cite journal | title= Dimensional Micro and Nano Metrology| author=Hansen H.N., Carneiro K., Haitjema H., De Chiffre L.,| publisher=CIRP Annals, 55-2, 721-743| year=2006 | postscript= <!--None--> }}</ref><ref>{{ Cite journal | title= Probing systems for dimensional micro- and nano-metrology| author=Weckenmann A., Peggs G., Hoffmann J.,| publisher=Meas. Sci. Technol. 17, 504–509, | year=2006 | postscript= <!--None--> }}</ref> Postoji nekoliko komercijalno dostupnih koordinatnih mjernih mašina (CMM) koje imaju mikrosondu integrisanu u sistem, nekoliko specijalnih sistema u laboratorijama vlade, a i na nemalom broju [[univerzitet]]a je ugrađena metrološka platforma za mikroskopsku metrologiju.
 
Tehnologije za dobivanjedobijanje mikroskopskih sondi uključuje umanjenu verziju klasičnih CMM sondi, optičkih sondi i talasnih stojećih sondi<ref>{{ Cite journal | title= The development of a virtual probe tip with application to high aspect ratio microscale features| author=M.B. Bauza, R.J Hocken, S.T Smith, S.C Woody,| publisher=Rev. Sci Instrum, 76 (9) 095112 | year=2005 | postscript= <!--None--> }}</ref> između ostalih. Ipak, trenutne optičke tehnologije ne mogu biti umanjene dovoljno da mjere duboke, uske karakteristike, te je optička rezolucija ograničena [[talas]]nom dužinom svjetlosti. X-zračno snimanje omogućava sliku osobine, ali ne i sljedivu metrološku informaciju.
 
==== Fizikalni principi ====