Razlika između verzija stranice "Skenirajući tunelski mikroskop"

[pregledana izmjena][pregledana izmjena]
Uklonjeni sadržaj Dodani sadržaj
preuzeto sa en wiki
No edit summary
Red 6:
Za STM, dobrom rezolucijom se smatra 0,1 nm poprečno, i 0,01 nm po dubini. Sa ovakvom rezolucijom, pojedinačni atomi na površini materijala su jednostavno uslikani, sa mogućnošću manipulacije.
 
Mnoge druge mikroskopske tehnike su razvijenrazvijene na bazi STM. One uključuju: '''fotonsku skenirajuću mikroskopiju''' (PSTM), koja koristi optički šiljak za tuneliranje fotona; skenirajući tunelski potenciometar (STP), koji mjeri električni potencijal površine; '''spin polariziranu skenirajuću tunelsku mikroskopiju''' (SPSTM), koja koristi feromagnetični šiljak da tunelira spin-polarizirane elektrone u magnetskom uzorku, kao i '''mikroskopiju atomske sile''' (AFM), u kojoj se mjeri sila uzrokovana interakcijom između vrha i uzorka.
 
== Vidjeti i ==
[[Nanotehnologija]]
==Vanjski linkovi==
{{Commons|Scanning tunneling microscope}}
*[http://www.fz-juelich.de/pgi/pgi-3/microscope A microscope is filming a microscope] (Mpeg, AVI movies)
*[http://www.nano.geo.uni-muenchen.de/SW/images/zoom.html Zooming into the NanoWorld] (Animation with measured STM images)
Line 30 ⟶ 29:
{{Tehnologija}}
{{Nanotehnologija}}
{{Nobelova nagrada za fiziku}}
{{Commonscat|Scanning tunneling microscope}}