Skenirajući tunelski mikroskop: razlika između verzija

m
nema sažetka izmjene
No edit summary
mNo edit summary
Njegov razvoj je 1981. donio pronalazačima, Gerd-u Binnig-u i Heinrich-u Rohrer-u (sa IBM Zürich), [[Nobelova nagrada za fiziku|Nobelovu nagradu za fiziku]], 1986.
 
Za STM, dobrom rezolucijom se smatra 0,1 nm poprečno, i 0,01 nm po dubini. Sa ovakvom rezolucijom, pojedinačni atomi na površini materijala su jednostavno uslikani, sa mogučnošćumogućnošću manipulacije.
 
Mnoge druge mikroskopske tehnike su razvijen na bazi STM. One uključuju: '''fotonsku skenirajuću mikroskopiju''' (PSTM), koja koristi optički šiljak za tuneliranje fotona; skenirajući tunelski potenciometar (STP), koji mjeri električni potencijal površine; '''spin polariziranu skenirajuću tunelsku mikroskopiju''' (SPSTM), koja koristi feromagnetični šiljak da tunelira spin-polarizirane elektrone u magnetskom uzorku, kao i '''mikroskopiju atomske sile''' (AFM), u kojoj se mjeri sila uzrokovana interakcijom između vrha i uzorka.